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RT-70V系列 四探針法電阻率和方塊電阻手動測量儀

更新時(shí)間:2023-08-22      瀏覽次數(shù):223

使用 JOG 旋鈕輕松操作 ?厚度、溫度、PN 輸入(RT-70V 測試儀)

具有厚度和溫度校正功能(對于硅) 

測量臺

1. RG-7C:電動探針升降自動平臺

1. RG-7C:電動探針升降自動平臺

2. RG-5:帶手動桿的探頭上/下平臺

2. RG-5:帶手動桿的探頭上/下平臺

3. RG-7S:玻璃基板/薄膜樣品的X-Y平臺

3. RG-7S:玻璃基板/薄膜樣品的X-Y平臺

4.TS-7D:手持式探頭型 *可選配載物臺。

4.TS-7D:手持式探頭型 *可選配載物臺。

測量規(guī)格

測量對象

  • 半導(dǎo)體及太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)

  • 新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)

  • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)

  • 擴(kuò)散樣品

  • 其他(*請聯(lián)系我們)

目標(biāo)尺寸

*取決于組合測量臺類型。
圓形:最大 300 毫米(12 英寸),方形:最大 730 x 920 毫米。

測量范圍

[電阻率(比電阻)] 1μ ~ 300kΩ cm
[表面電阻] 5m ~ 10MΩ/sq

[電阻率(比電阻)] 1 μ 至 300 kΩ cm
[表面電阻] 5 m 至 10 MΩ/sq

產(chǎn)品尺寸

RT-70V:W250×D330×H130mm
約7kg



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