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ORTEC GEM輻射探測器是一款P型同軸HPGe探測器,適用于~40 keV及以上典型能量范圍的γ能譜測量。
GEM系列探測器特征:
效率達(dá)150%,還可應(yīng)要求提高。
出色的能量分辨率和峰值對稱性。
SMART偏壓選件。
惡劣環(huán)境(-HE)選件。
低本底碳纖維端蓋選件。
外加前置放大器選件適用于超高計(jì)數(shù)率應(yīng)用。
廣泛的配置靈活性,PopTop、Streamline和機(jī)械冷卻選項(xiàng)。
可選附件
集成低溫冷卻系統(tǒng)選件(-ICS、-ICS-E)
集成低溫冷卻系統(tǒng)(ICS)低溫恒溫器配備有低溫冷卻器,不受回溫循環(huán)的影響。與使用標(biāo)準(zhǔn)型低溫恒溫器探測器的典型三天損失不同,ICS可以立即重新冷卻,最大限度地減少因臨時回溫而損失的任何時間。ICS可配備內(nèi)部前置放大器(-ICS)或外部前置放大器(-ICS-E)。
集成低溫冷卻低本底系統(tǒng)(-ICS-LB)
低本底探測器配有內(nèi)置前置放大器、高純鋁端蓋、高純鋁窗、高純鋁內(nèi)杯,以及用于ICS集成低溫冷卻系統(tǒng)的低本底銅安裝座。較低本底的材料可在特定計(jì)數(shù)時間內(nèi)降低最小可探測活度(MDA),這為在低本底應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。
SMART-1選件 (-SMP)
SMART-1選件用于監(jiān)控和報(bào)告重要的系統(tǒng)功能,還可保存授權(quán)碼并在稍后報(bào)告該碼。它包括高壓,因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅(jiān)固的ABS模塑塑料外殼,并通過模塑應(yīng)變消除密封電纜牢牢地固定在探測器端蓋上。這可避免探測器因水分泄漏到高壓連接器中而受到嚴(yán)重?fù)p壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置,不會干擾屏蔽體或其他硬件安裝。
超高計(jì)數(shù)率前置放大器選件(-PL)
超高計(jì)數(shù)率前置放大器(晶體管復(fù)位前置放大器)可在1 MeV下處理高達(dá)1,000,000個計(jì)數(shù)/秒的輸入計(jì)數(shù)率,并具有無反饋電阻的額外優(yōu)勢。
惡劣環(huán)境選件(-HE)
惡劣環(huán)境選件是一個堅(jiān)固的碳纖維端蓋,配有密封的電子設(shè)備外殼,并帶有可更換的干燥劑包,用以確保電子設(shè)備保持100%干燥并指示何時需要更換干燥劑包。直徑為76 mm或更大PopTop封裝設(shè)計(jì)中的GEM系列探測器可配備此選件。
遠(yuǎn)端前置放大器選件(-HJ)
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外,并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線"移除。對于低本底應(yīng)用,此選件消除了可能增加本底的前置放大器或高壓濾波器組件。
低本底碳纖維端蓋選件(-RB、-LB-C和-XLB-C)
低本底碳纖維端蓋與Al、Mg和Cu一樣堅(jiān)固,產(chǎn)生的本底少,不被腐蝕,并且可以檢測低于10 keV的能量。這種較低的本底材料可在特定計(jì)數(shù)時間內(nèi)降低最小可探測活度(MDA),這為在低本底計(jì)數(shù)應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。碳纖維的較低Z可提供低能量窗口,而不會產(chǎn)生在大多數(shù)合金中發(fā)現(xiàn)的額外本底。