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日本shimadzu半導體超顯微動態(tài)硬度計DUH-211的介紹

更新時間:2024-08-26      瀏覽次數(shù):134

日本shimadzu半導體超顯微動態(tài)硬度計DUH-211的介紹

概述:島津DUH-211系列超顯微動態(tài)硬度計采用電磁力將壓頭壓入樣品,在壓頭壓入樣品的過程中自動測量壓頭壓入的深度。通過這種方法對壓頭壓入過程中樣品抵抗變形的變化進行動態(tài)測量從而獲得各種數(shù)據(jù)。本裝置獲得的硬度是壓頭在壓入過程中的動態(tài)硬度,可以對樣品的塑性變形部分和彈性變形部分進行分析評價。另外,通過顯微鏡可以觀察壓痕的大小,如果到足夠大小時,可以從對角線的長度測定得到測量維氏、努氏硬度。

特點:

· 遵循ISO 14577-1 AnnexA標準對馬氏硬度及材料參數(shù)進行評價。

· 具有精度良好的彈性率評價。

· 0.196mN的試驗力分辨率。

· 0.1~1961mN的超寬試驗力范圍。

· 采用高精度的壓入深度測定方法。

· 多種加載-卸載方式。

· 可以測定維氏硬度和努氏硬度

· 通過選擇壓縮盤及壓縮軟件可以進行微小載荷的壓縮試驗

 規(guī)格:

· 加載方式:電磁力

· 試驗力范圍:0.1~1961mN

· 試驗力精度:顯示值的±1%

· 位移測量范圍:0~10μm

· 位移測量精度:0.0001μm

· 壓頭類型:115o三角錐壓頭

· 顯微鏡放大倍率:×500 (×50倍物鏡時)

 用途:

· 真空膜、半導體材料的鍍膜、離子填充層、氧化層

· 金屬材料、塑料、橡膠彈性體

· 光纖維、碳纖維

· 玻璃、陶瓷等脆性材料

 

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