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雙折射分布即時可視化透明成型產品2D雙折射評價裝置的測量原理
Photonic Lattice 光子晶格
實現光學元件的“雙折射評價”?。?/font>
即時可視化透明成型產品(例如透鏡、光盤、Doko 板等)
的雙折射分布。
測量數據示例
雙折射面內分布的高速定量評價
多種圖形顯示功能
雙折射分布的 3D 顯示,顯示高度上的雙折射量
配備易于使用的專用軟件PA-View
可以進行視頻拍攝和分析。 (選項)
還有一種用于測量微量樣品的顯微鏡類型(PA-micro)。 (新發(fā)布)
由于強大的內應力或扭曲的晶體結構,折射率可能會根據方向略有變化。 這稱為雙折射。
雙折射物質具有改變穿過其的光的偏振狀態(tài)的特性,廣泛應用于液晶面板、光盤等物品。
雙折射測量有時也用于評估內應力。
然而,由于測量雙折射通常需要時間,因此即使需要定量測量表面分布,也可以使用多個點的點測量作為替代方案。
使用PA200,您可以通過簡單的操作快速測量雙折射的表面分布。 這使得測量整個樣品及其整個表面成為可能。
利用兩種獨的特的技術來快速測量雙折射的表面分布。
技術1:頭部內置偏光圖像傳感器
該傳感器與偏振相機 PI00 類似,可讓您即時捕捉偏振光平面分布的圖像。
技術2:高速偏振測量算法
通過對每個像素進行高速高級偏振計算的程序,首的次的實現了高速雙折射測量。
操作簡單。
首先,在不放置待測物體的情況下拍攝光源。
您只需將樣品放在其上,然后單擊測量按鈕即可依次測量樣品整個表面的雙折射分布。
| PA-200 | PA-200-L |
測量 | ||
測量范圍 | 0~130nm | |
重復性 | 1.0nm以下 | |
傳感器單元 | ||
雙折射像素數 | 1120×868(≒100萬)像素 | |
測量波長 | 520nm | |
住房 | ||
尺寸 | 270×340×560毫米 | 430×490×910毫米 |
測量區(qū)域大小 | 27×36mm~99×132mm(標準鏡頭) | 36×48mm~240×320mm(標準鏡頭) |
3.6×4.8 mm ~ 12.9×17.2mm(變焦鏡頭*可選) | ||
重量 | 18公斤 | 24公斤 |
其他的 | ||
界面 | GigE(相機信號) | |
電源/電流消耗 | AC100~240V(50/60Hz) / ~6.0A | |
軟件 | PA-視圖 | |
配件 | 筆記本電腦、標準鏡頭、使用說明書 |
注1) 可測量范圍因測量材料而異。
*產品規(guī)格如有更改,恕不另行通知。
*本產品可測量的內部畸變是光學測量的,測量值顯示為光學相位差(單位:nm)。