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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  儀表,電子設(shè)備  -  napson  -  EC-80Pnapson電阻測量儀 電阻計 熱電阻

napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻

napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80P的介紹
簡單的測量儀器,只需將樣品插入探頭之間即可測量
在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 撥盤輕松設(shè)置測量條件
*由于探頭為固定型,請在購買前從多種類型中選擇一種。

  • 產(chǎn)品型號:EC-80P
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2023-04-15
  • 訪  問  量:500
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napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80P的介紹

napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80P的介紹

產(chǎn)品特點

  • 只需觸摸手持探頭即可測量電阻

  • 在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換

  • 通過 JOG 撥盤輕松設(shè)置測量條件

  • 可互換連接器連接的電阻測量探頭支持各種電阻

  • (電阻探頭:最多可使用2+PN判斷探頭)


測量規(guī)格

測量對象

半導(dǎo)體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜(金屬、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*請聯(lián)系我們)

測量尺寸

不受樣品尺寸和形狀的影響(但是,大于 20 mmφ 且表面平坦的樣品)均可測量

 

測量范圍

[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
(*所有探頭類型的總范圍/當(dāng)厚度為 500um 時)
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq

  • 節(jié)省空間,使用個人電腦輕松操作和數(shù)據(jù)處理

  • 非接觸式渦流法可實現(xiàn)無損傷測量

  • 探頭可拆卸和更換,因此每個量程的探頭都可以輕松更換。

  • (*可選用于第二個和后續(xù)電阻探頭)

  • 1 中心點測量

測量對象

半導(dǎo)體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
 新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
 導(dǎo)電薄膜(金屬、ITO等)
 硅基外延、 ion Injection sample
 化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)


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