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您的位置：首頁  -  產(chǎn)品中心  -  儀表，電子設(shè)備  -  日本  -  HM-1000日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀

日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀

日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

  • 產(chǎn)品型號(hào)：HM-1000
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間：2024-11-07
  • 訪  問  量：201
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日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000  

特征

這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。

1.最多可檢測8層厚度。

2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。

3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。

4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。

使用示例

1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

3.測量透明管內(nèi)徑

4.鏡片厚度測量

日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000  

特征

這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。

1.最多可檢測8層厚度。

2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。

3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。

4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。

使用示例

1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

3.測量透明管內(nèi)徑

4.鏡片厚度測量

特征

這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。

1.最多可檢測8層厚度。

2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。

3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。

4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。

使用示例

1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

3.測量透明管內(nèi)徑

4.鏡片厚度測量


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