欧美大屁股xxxx高跟欧美黑人,国产精品亚洲αv天堂无码,在线播放无码高潮的视频,永久免费看mv网站入口亚洲

產品分類

products category

產品中心/ products

您的位置：首頁  -  產品中心  -  儀表，電子設備  -  otsukael  -  FE-5000/5000Sotsukael分光橢偏儀 旋轉分析器 膜厚計 紫外光譜儀

otsukael分光橢偏儀 旋轉分析器 膜厚計 紫外光譜儀

otsukael分光橢偏儀 旋轉分析器 膜厚計FE-5000/5000S的介紹

除了可以進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏光法外，它還通過實現自動可變測量角度機構來兼容所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉分析器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機構提高了測量精度。

  • 產品型號：FE-5000/5000S
  • 廠商性質：經銷商
  • 更新時間：2023-04-14
  • 訪  問  量：816
立即咨詢

聯系電話：

產品詳情
品牌其他品牌產地國產

otsukael分光橢偏儀 旋轉分析器 膜厚計FE-5000/5000S的介紹

otsukael分光橢偏儀 旋轉分析器 膜厚計FE-5000/5000S的介紹



除了可以進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏光法外，它還通過實現自動可變測量角度機構來兼容所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉分析器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機構提高了測量精度。



特征

  • 可在紫外-可見（300 至 800 nm）波長范圍內測量橢圓參數

  • 能夠分析納米級多層薄膜的膜厚

  • 通過 400 通道或更多通道的多通道光譜快速測量橢圓光譜

  • 支持通過可變反射角測量對薄膜進行詳細分析

  • 通過創(chuàng)建光學常數數據庫和添加配方注冊功能提高可操作性

 

測量項目

  • 橢圓參數（tanψ，cosΔ）測量

  • 光學常數（n：折射率，k：消光系數）分析

  • 膜厚分析

 

測量對象

  • 半導體ウェーハ
    ゲート酸化薄膜，窒化膜
    SiO2，SixOy，SiN，SiON，SiNx，Al2O3，SiNxOy，poly-Si，ZnSe， BPSG，TiN
    レジストの光學定數(波長分散)

  • 化合物半導體
    AlxGa(1-x)As 多層膜，アモルファスシリコン

  • FPD
    配向膜

  • 各種新素材
    DLC(Diamond Like Carbon)，超伝導用薄膜，磁気ヘッド薄膜

  • 光學薄膜
    TiO2，SiO2，反射防止膜

  • リソグラフィー分野
    g線(436nm)，h線(405nm)，i線(365nm)などの各波長におけるn，k評価


在線咨詢

留言框

  • 產品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細地址：

  • 補充說明：

  • 驗證碼：

    請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7

掃一掃
加微信
版權所有©2024 深圳九州工業(yè)品有限公司 All Rights Reserved   備案號：粵ICP備2023038974號   sitemap.xml   技術支持：環(huán)保在線   管理登陸