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otsukael膜厚監(jiān)測儀 膜厚測量儀 紫外光譜儀

otsukael膜厚監(jiān)測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹
這是一款小型、低成本的膜厚測量儀，可通過高精度光學干涉測量法實現(xiàn)易于操作的膜厚測量。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲在主機中，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。

  • 產(chǎn)品型號：FE-300
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時間：2023-04-14
  • 訪  問  量：1169
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otsukael膜厚監(jiān)測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹

otsukael膜厚監(jiān)測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹


這是一款小型、低成本的膜厚測量儀，可通過高精度光學干涉測量法實現(xiàn)易于操作的膜厚測量。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲在主機中，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集

特征

  • 支持從薄到厚的廣泛薄膜厚度

  • 使用反射光譜的膜厚度分析

  • 緊湊、低成本、非接觸、無損、高精度測量

  • 簡單的條件設(shè)置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度

  • 使用峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、化法等，可以進行廣泛的膜厚測量。

  • 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）可以通過非線性最小二乘法的膜厚分析算法進行。

測量項目

  • 絕對反射率測量

  • 薄膜厚度分析（10層）

  • 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

 

測量對象

  • 功能性薄膜、塑料
    透明導電薄膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、粘合劑、保護膜、hard Coat、抗指紋代理等

  • 半導體
    化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。

  • 表面處理
    DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。

  • 光學材料
    濾光片、增透膜等

  • FPD
    LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機薄膜、密封膠）等

  • 其他
    HDD、磁帶、建材等



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